Leiden Ranking vs. Shanghai

Date 3 février 2012

La onzième session de l’Atelier Bibliométrie, évaluation et caractérisation des publications scientifiques de l’URFIST de Paris accueillera Ton F.J. van Raan, Professor of Quantitative Studies of Science, Centre for Science and Technology Studies (CWTS), Leiden University (Leyde, Pays-Bas)

Concepteur du classement de Leiden (http://www.leidenranking.com/ ), il exposera les principes de ce nouveau cadre alternatif vis-à-vis des systèmes en vigueur, de Shanghai notamment.

Révolutionnaire par le biais de son FCS (Field Citation Score), il prend en compte les spécificités de chaque discipline et utilise les algorithmes de distribution qui font défaut dans des systèmes classiques fondés sur un usage brut et peu réfléchi des principes de Garfield. Très convaincant dans sa présentation à l’ESSS de Vienne en septembre 2011 (European Summer School of Scientometrics), il exposera ses arguments dans cette prochaine séance de notre Atelier au CNAM à Paris, le vendredi 23 mars de 9h30 à 12h, 292 rue Saint Martin, accès 17, salle 17.2.15.

Inscription sous :

http://urfist.enc.sorbonne.fr/sygefor/journee/40


Manuel Durand-Barthez

Membre de l'URFIST de Paris. Formation SHS, professionnellement plutôt tourné vers les STM.

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